論測試轉(zhuǎn)臺的研究現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢論文
論測試轉(zhuǎn)臺的研究現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢論文
天線測試轉(zhuǎn)臺用于完成天線遠場的測試任務(wù),是一種重要的仿真測試設(shè)備?？梢阅M天線橫滾、俯仰、方位等各種姿態(tài)變化。在航空航天、通訊技術(shù)和科研等領(lǐng)域上都有廣泛的應(yīng)用。測試系統(tǒng)中,發(fā)射端轉(zhuǎn)臺和接收端轉(zhuǎn)臺的對準(zhǔn)對天線測試起著極其重要的作用,測試轉(zhuǎn)臺性能的高低直接關(guān)系到仿真和試驗結(jié)果的準(zhǔn)確性,是保證天線精度和性能的基礎(chǔ)。以下是學(xué)習(xí)啦小編今天為大家精心準(zhǔn)備的：論測試轉(zhuǎn)臺的研究現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢相關(guān)論文。內(nèi)容僅供參考，歡迎閱讀!
論測試轉(zhuǎn)臺的研究現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢全文如下：
【摘要】：由于航空、航天技術(shù)的發(fā)展依賴于慣性導(dǎo)航與制導(dǎo)系統(tǒng),因而慣性元件的好壞直接影響導(dǎo)航與制導(dǎo)系統(tǒng)的品質(zhì),轉(zhuǎn)臺作為慣性元件測試的重要設(shè)備,已經(jīng)廣泛應(yīng)用于航天、航空以及國防軍事等領(lǐng)域,本文主要論述了測試轉(zhuǎn)臺的國內(nèi)外發(fā)展?fàn)顩r及發(fā)展趨勢。
【關(guān)鍵詞】： 轉(zhuǎn)臺 慣性元件 精度
1前言
航空航天技術(shù)是上世紀后期興起的現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)，自其形成以來，一直汲取基礎(chǔ)科學(xué)和其他應(yīng)用科學(xué)領(lǐng)域的最新成就，高度綜合了工程技術(shù)的最新成果。時至今日，航天航空技術(shù)水平的高低，已經(jīng)不僅僅是一個國家科學(xué)技術(shù)水平的顯現(xiàn)，它更多的是作為一個國家綜合國力的象征。因此各個國家都投入大量的資金以及科研力量進行航空航天技術(shù)的研發(fā)。
在航天航空技術(shù)中，導(dǎo)彈技術(shù)對于一個國家的重要性是不言而喻的，而擁有高性能和高可靠性的慣性導(dǎo)航與制導(dǎo)系統(tǒng)，在導(dǎo)彈技術(shù)中又是重中之重。在慣性導(dǎo)航系統(tǒng)的研發(fā)中，對慣性元件進行測試是十分重要的，但是進行實物打靶試驗會耗費大量的經(jīng)費，所以在科研中經(jīng)常使用半實物的仿真試驗。而轉(zhuǎn)臺作為慣性元件的重要測試設(shè)備，它的精度會直接影響測試的準(zhǔn)確性和可靠性。
因此對于轉(zhuǎn)臺的性能研究是具有很強的應(yīng)用價值和重大意義的。
2 國外轉(zhuǎn)臺的研究發(fā)展現(xiàn)狀
由于慣性制導(dǎo)技術(shù)在軍事上的重要性，所以發(fā)達國家都對此研究花費了很大的精力。在眾多研究轉(zhuǎn)臺技術(shù)的國家中，美國一直處于世界領(lǐng)先水平，遠超英國、法國、俄羅斯等國家。
美國從上世紀四十年代就已經(jīng)開始進行轉(zhuǎn)臺技術(shù)的研究工作，美國麻省理工學(xué)院在 1945 年研制出了 A 型轉(zhuǎn)臺，這是世界上第一臺轉(zhuǎn)臺，采用的是普通滾珠軸承和交流電機驅(qū)動，由于這個轉(zhuǎn)臺技術(shù)并不成熟，所以并沒有投入使用。隨著制造加工業(yè)水平的提高，轉(zhuǎn)臺的測量精度也逐步提高。在 1954 年，麻省理工學(xué)院研制出了 D 型轉(zhuǎn)臺，并加以改進，于 1968 年研制出 E 型轉(zhuǎn)臺，定位的精度達到 3"，可以說麻省理工學(xué)院開創(chuàng)了美國轉(zhuǎn)臺技術(shù)的先河，甚至是全球范圍內(nèi)的先行者。
到 70 年代末，CGC 公司成功研制出 51 系列轉(zhuǎn)臺，采用雙軸式氣浮軸承，其精度可達到 1" 以內(nèi)。隨后又研制出 53D、53E、53G 型轉(zhuǎn)臺，均為多軸轉(zhuǎn)臺系統(tǒng)，以上系列的多軸測試轉(zhuǎn)臺在控制上均采用了 MPACS30H 系列模塊化精密角度控制系統(tǒng) (Modular Precision Angular Control System)，這標(biāo)志著轉(zhuǎn)臺已經(jīng)進入計算機控制和自動化的階段。1984 年。CGC 公司提出了三軸臺 ITATT 的設(shè)計制造方案，其指向精度可達 0.1"，其測試精度之已高達到了當(dāng)時其他慣性導(dǎo)航測試儀器的幾十倍。進入 21 世紀，CGC 等多家公司合并組建了 Acutronic 公司，成為現(xiàn)今技術(shù)實力最強的轉(zhuǎn)臺研發(fā)生成公司，其技術(shù)一直處于世界領(lǐng)先水平，其產(chǎn)品也成為全球市場占有率最高的轉(zhuǎn)臺產(chǎn)品。
3 國內(nèi)轉(zhuǎn)臺的研究發(fā)展現(xiàn)狀
相對于美國等發(fā)達國家，我國開始進行轉(zhuǎn)臺技術(shù)的研發(fā)工作很晚，一直到 60年代中期年才開始進行。雖然開始的比較晚，但是我國轉(zhuǎn)臺技術(shù)的發(fā)展還是很快的，從 1966 年第一臺 DT-1 單軸轉(zhuǎn)臺研發(fā)成功開始，在隨后的十幾年內(nèi)，相繼研發(fā)出“7191”雙軸空氣軸承轉(zhuǎn)臺、SSFT 伺服轉(zhuǎn)臺等，在提高精度、簡化操作、功能擴展、提高可靠性等方面做了很多改進，并于 1992 年研究出我國第一臺高精度三軸轉(zhuǎn)臺 SGT-1 型三軸臺，由計算機參與控制，大大提高控制精度和測試自動化水平，為我國慣性導(dǎo)航元件提供了高精度的測試。
哈爾濱工業(yè)大學(xué)于 2004 年研制出我國首臺臥式高精度轉(zhuǎn)臺，SCT-1 三軸精密測試轉(zhuǎn)臺。隨后由航空部 303 所研制的 SJT-1 三軸精密轉(zhuǎn)臺，是國內(nèi)首臺包含動態(tài)測試、靜態(tài)測試和溫度測試的高性能捷聯(lián)慣導(dǎo)綜合測試三軸臺，其總體性能均達到目前世界上同類產(chǎn)品的先進水平。
我國的轉(zhuǎn)臺技術(shù)雖然起步較晚，但是發(fā)展速度比較快，目前哈工大仿真中心、哈工大慣導(dǎo)中心、航空 303 所等單位都已達到世界先進水平，為國內(nèi)提供了大量的仿真和測試轉(zhuǎn)臺。通過技術(shù)指標(biāo)的對比可以看出，我國轉(zhuǎn)臺技術(shù)與美國等發(fā)達國家還是有一些差距的，主要問題在控制技術(shù)、傳感器的精度和動態(tài)性能、驅(qū)動設(shè)備的低速性能等方面。
4 轉(zhuǎn)臺的發(fā)展趨勢
近些年來隨著科技的發(fā)展，各種武器裝備的發(fā)展速度也十分迅猛，隨之而來對于轉(zhuǎn)臺技術(shù)的精確性要求也在不斷的提高。因此，未來對于轉(zhuǎn)臺技術(shù)的主要發(fā)展方向就是提高精度及自動化水平，同時降低生產(chǎn)成本。轉(zhuǎn)臺技術(shù)的發(fā)展趨勢可歸結(jié)為以下幾點 ：
(1)簡化轉(zhuǎn)臺，降低轉(zhuǎn)臺多用性，以便提高精度 ;
(2)使用新型材料，利用新型材料的特性，并提高制造工藝水平，從而提高轉(zhuǎn)臺的精度 ;
(3)應(yīng)用計算機控制，提高自動化水平，利用計算機的準(zhǔn)確性對誤差進行反饋和補償 ;
(4)使轉(zhuǎn)臺技術(shù)系列化，可以有效的減少成本和人員培訓(xùn)的周期，縮短研發(fā)時間。
為了提高轉(zhuǎn)臺控制系統(tǒng)的精度，除了對轉(zhuǎn)臺本身元器件的精度研究提高，對于先進控制方法的研究也必不可少。由于模擬電路的噪聲、漂移等現(xiàn)象對控制系統(tǒng)都會產(chǎn)生很大影響，因此需要使用數(shù)字控制系統(tǒng)。數(shù)控系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)簡單，其精度不會受到噪聲、漂移的影響，可以有效的提高精度，所以模擬控制系統(tǒng)必將被數(shù)控系統(tǒng)所取代。下面介紹幾種常用的轉(zhuǎn)臺控制方法 ：
(1)PID 控制，傳統(tǒng)的 PD 或 PID 控制不僅結(jié)構(gòu)簡單、可靠性也很高以，同時具有良好的穩(wěn)定性等優(yōu)點，但是只適合用于負載低、擾動小且非線性因素小的系統(tǒng)。
(2)復(fù)合控制，復(fù)合控制可大大提高系統(tǒng)的控制精度。
(3)自適應(yīng)控制，適用于對象特性或擾動特性變化范圍較大，且性能指標(biāo)要求較高的控制系統(tǒng)。
(4)智能控制，是控制理論發(fā)展的高級階段，主要用來解決那些傳統(tǒng)控制方法難以解決的復(fù)雜系統(tǒng)的控制問題。無論使用哪種控制策略，都是為了讓轉(zhuǎn)臺控制系統(tǒng)達到更高的性能指標(biāo)要去，最大程度的提高系統(tǒng)整體精度。所以，對轉(zhuǎn)臺這樣復(fù)雜的控制系統(tǒng)，通常都要結(jié)合多種控制方法來彌補單一控制方法的不足之處。
【參考文獻】
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