臺式機測試卡怎么樣使用
想用臺式機測試卡來測試下臺式機，不會使用怎么辦呢?下面由學習啦小編給你做出詳細的臺式機測試卡使用方法介紹!希望對你有幫助!
臺式機測試卡使用方法一：
首先把DEBUG卡插到故障主板上，CPU、內(nèi)存、擴充卡都不插，只插上主板的電源，此時，主振燈應亮，否則主板不起振;復位信號燈應亮半秒種后熄滅，若不亮，則主板無復位信號而不能用，如果常亮，則主板總處于復位狀態(tài)，無法向下進行，初學者常把加速開關(guān)線當成復位線插到了復位插針上，導致復位燈常亮，復位電路損壞也會導致此故障;分頻信號燈應亮，否則說明分頻部分有故障;+5V、-5V、+12V、-12V(新式卡多了+3V、-3V)四個(六個)電源指示燈應足夠亮，不亮或亮度不夠，說明開關(guān)電源輸出不正常，或者是主板
對電源短路或開路;BIOS信號燈因無CPU不亮是正常的，但若插上完好的CPU后，BIOS燈應無規(guī)則的閃亮，否則說明CPU壞或跳線不正確或主板損壞。DEBUG 2000的這一功能相當有效，象-5V、-12V的電壓值在PC組件中極少用到，新攢的或使用已久的PC電源，其-5V和-12V可能已經(jīng)損壞，平時雖相安無事，出了問題卻會讓你頭疼，現(xiàn)在，通過DEBUG卡上的批示燈就可方便地解決這個問題。排除了以上簡單的故障后，把有關(guān)的擴展卡插上(一般是只組成最小系統(tǒng))，根據(jù)開機后顯示的代碼，就可以直接找到有問題的配件，從而方便地解決裝機時出現(xiàn)的硬件錯誤，比如內(nèi)存、顯卡、CPU等硬件的接觸錯誤，BIOS，CPU緩存的功能錯誤等。
臺式機測試卡使用方法二：
電腦插獨顯的那個插槽下面不是還有插槽嗎?測試卡插上就能用，不要專門安裝驅(qū)動的，不過測試燈怎么變化而表示什么故障就不得而知了，我不是專業(yè)修電腦的，只是自己的破電腦弄過兩次胡亂倒騰好了。
相關(guān)閱讀：
臺式機測試卡對照表
電腦主板故障診斷卡代碼對照表
00 . 已顯示系統(tǒng)的配置;即將控制INI19引導裝入。 .
01 處理器測試1，處理器狀態(tài)核實,如果測試失敗，循環(huán)是無限的。 處理器寄存器的測試即將開始，不可屏蔽中斷即將停用。 CPU寄存器測試正在進行或者失敗。
02 確定診斷的類型(正?；蛘咧圃?。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會失效。 停用不可屏蔽中斷;通過延遲開始。 CMOS寫入/讀出正在進行或者失靈。
03 清除8042鍵盤控制器，發(fā)出TESTKBRD命令(AAH) 通電延遲已完成。 ROM BIOS檢查部件正在進行或失靈。
04 使8042鍵盤控制器復位，核實TESTKBRD。 鍵盤控制器軟復位/通電測試。 可編程間隔計時器的測試正在進行或失靈。
05 如果不斷重復制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tài)。 已確定軟復位/通電;即將啟動ROM。 DMA初如準備正在進行或者失靈。
06 使電路片作初始準備，停用視頻、奇偶性、DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁面寄存器和CMOS停機字節(jié)。 已啟動ROM計算ROM BIOS檢查總和，以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。 DMA初始頁面寄存器讀/寫測試正在進行或失靈。
07 處理器測試2，核實CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常，鍵盤緩沖器已清除，向鍵盤發(fā)出BAT(基本保證測試)命令。 .
08 使CMOS計時器作初始準備，正常的更新計時器的循環(huán)。 已向鍵盤發(fā)出BAT命令，即將寫入BAT命令。 RAM更新檢驗正在進行或失靈。
09 EPROM檢查總和且必須等于零才通過。 核實鍵盤的基本保證測試，接著核實鍵盤命令字節(jié)。 第一個64K RAM測試正在進行。
0A 使視頻接口作初始準備。 發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼，即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。 第一個64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。
0B 測試8254通道0。 寫入鍵盤控制器命令字節(jié)，即將發(fā)出引腳23和24的封鎖/解鎖命令。 第一個64K RAM奇/偶邏輯失靈。
0C 測試8254通道1。 鍵盤控制器引腳23、24已封鎖/解鎖;已發(fā)出NOP命令。 第一個64K RAN的地址線故障。
0D 1、檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。3、視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。 已處理NOP命令;接著測試CMOS停開寄存器。 第一個64K RAM的奇偶性失靈
0E 測試CMOS停機字節(jié)。 CMOS停開寄存器讀/寫測試;將計算CMOS檢查總和。 初始化輸入/輸出端口地址。
0F 測試擴展的CMOS。 已計算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié);CMOS開始初始準備。 .
10 測試DMA通道0。 CMOS已作初始準備，CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時間作初始準備。 第一個64K RAM第0位故障。
11 測試DMA通道1。 CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準備，即將停用DMA和中斷控制器。 第一個64DK RAM第1位故障。
12 測試DMA頁面寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2;即將視頻顯示器并使端口B作初始準備。 第一個64DK RAM第2位故障。
13 測試8741鍵盤控制器接口。 視頻顯示器已停用，端口B已作初始準備;即將開始電路片初始化/存儲器自動檢測。 第一個64DK RAM第3位故障。
14 測試存儲器更新觸發(fā)電路。 電路片初始化/存儲器處自動檢測結(jié)束;8254計時器測試即將開始。 第一個64DK RAM第4位故障。
15 測試開頭64K的系統(tǒng)存儲器。 第2通道計時器測試了一半;8254第2通道計時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第5位故障。
16 建立8259所用的中斷矢量表。 第2通道計時器測試結(jié)束;8254第1通道計時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第6位故障。
17 調(diào)準視頻輸入/輸出工作，若裝有視頻BIOS則啟用。 第1通道計時器測試結(jié)束;8254第0通道計時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第7位故障。
18 測試視頻存儲器，如果安裝選用的視頻BIOS通過，由可繞過。 第0通道計時器測試結(jié)束;即將開始更新存儲器。 第一個64DK RAM第8位故障。
19 測試第1通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。 已開始更新存儲器，接著將完成存儲器的更新。 第一個64DK RAM第9位故障。
1A 測試第2通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲器更新線路，即將檢查15微秒通/斷時間。 第一個64DK RAM第10位故障。
1B 測試CMOS電池電平。 完成存儲器更新時間30微秒測試;即將開始基本的64K存儲器測試。 第一個64DK RAM第11位故障。
1C 測試CMOS檢查總和。 . 第一個64DK RAM第12位故障。
1D 調(diào)定CMOS配置。 . 第一個64DK RAM第13位故障。
1E 測定系統(tǒng)存儲器的大小，并且把它和CMOS值比較。 . 第一個64DK RAM第14位故障。
1F 測試64K存儲器至最高640K。 . 第一個64DK RAM第15位故障。
20 測量固定的8259中斷位。 開始基本的64K存儲器測試;即將測試地址線。 從屬DMA寄存器測試正在進行或失靈。
21 維持不可屏蔽中斷(NMI)位(奇偶性或輸入/輸出通道的檢查)。 通過地址線測試;即將觸發(fā)奇偶性。 主DMA寄存器測試正在進行或失靈。
22 測試8259的中斷功能。 結(jié)束觸發(fā)奇偶性;將開始串行數(shù)據(jù)讀/寫測試。 主中斷屏蔽寄存器測試正在進行或失靈。
23 測試保護方式8086虛擬方式和8086頁面方式。 基本的64K串行數(shù)據(jù)讀/寫測試正常;即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。 從屬中斷屏蔽存器測試正在進行或失靈。
24 測定1MB以上的擴展存儲器。 矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成，即將開始中斷矢量的初始準備。 設(shè)置ES段地址寄存器注冊表到內(nèi)存高端。
25 測試除頭一個64K之后的所有存儲器。 完成中斷矢量初始準備;將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始讀出8042的輸入/輸出端口。 裝入中斷矢量正在進行或失靈。
26 測試保護方式的例外情況。 讀出8042的輸入/輸出端口;即將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始使全局數(shù)據(jù)作初始準備。 開啟A20地址線;使之參入尋址。
27 確定超高速緩沖存儲器的控制或屏蔽RAM。 全1數(shù)據(jù)初始準備結(jié)束;接著將進行中斷矢量之后的任何初始準備。 鍵盤控制器測試正在進行或失靈。
28 確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。 完成中斷矢量之后的初始準備;即將調(diào)定單色方式。 CMOS電源故障/檢查總和計算正在進行。
29 . 已調(diào)定單色方式，即將調(diào)定彩色方式。 CMOS配置有效性的檢查正在進行。
2A 使鍵盤控制器作初始準備。 已調(diào)定彩色方式，即將進行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。 置空64K基本內(nèi)存。
2B 使磁碟驅(qū)動器和控制器作初始準備。 觸發(fā)奇偶性結(jié)束;即將控制任選的視頻ROM檢查前所需的任何調(diào)節(jié)。 屏幕存儲器測試正在進行或失靈。
2C 檢查串行端口，并使之作初始準備。 完成視頻ROM控制之前的處理;即將查看任選的視頻ROM并加以控制。 屏幕初始準備正在進行或失靈。
2D 檢測并行端口，并使之作初始準備。 已完成任選的視頻ROM控制，即將進行視頻ROM回復控制之后任何其他處理的控制。 屏幕回掃測試正在進行或失靈。
2E 使硬磁盤驅(qū)動器和控制器作初始準備。 從視頻ROM控制之后的處理復原;如果沒有發(fā)現(xiàn)EGA/VGA就要進行顯示器存儲器讀/寫測試。 檢測視頻ROM正在進行。
2F 檢測數(shù)學協(xié)處理器，并使之作初始準備。 沒發(fā)現(xiàn)EGA/VGA;即將開始顯示器存儲器讀/寫測試。 .
30 建立基本內(nèi)存和擴展內(nèi)存。 通過顯示器存儲器讀/寫測試;即將進行掃描檢查。 認為屏幕是可以工作的。
31 檢測從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之作初始準備。 顯示器存儲器讀/寫測試或掃描檢查失敗，即將進行另一種顯示器存儲器讀/寫測試。 單色監(jiān)視器是可以工作的。
32 對主板上COM/LTP/FDD/聲音設(shè)備等I/O芯片編程使之適合設(shè)置值。 通過另一種顯示器存儲器讀/寫測試;卻將進行另一種顯示器掃描檢查。 彩色監(jiān)視器(40列)是可以工作的。
33 . 視頻顯示器檢查結(jié)束;將開始利用調(diào)節(jié)開關(guān)和實際插卡檢驗顯示器的關(guān)型。 彩色監(jiān)視器(80列)是可以工作的。
34 . 已檢驗顯示器適配器;接著將調(diào)定顯示方式。 計時器滴答聲中斷測試正在進行或失靈。
35 . 完成調(diào)定顯示方式;即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 停機測試正在進行或失靈。
36 . 已檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū);即將調(diào)定通電信息的游標。 門電路中A-20失靈。
37 . 識別通電信息的游標調(diào)定已完成;即將顯示通電信息。 保護方式中的意外中斷。
38 . 完成顯示通電信息;即將讀出新的游標位置。 RAM測試正在進行或者地址故障>FFFFH。
39 . 已讀出保存游標位置，即將顯示引用信息串。 .
3A . 引用信息串顯示結(jié)束;即將顯示發(fā)現(xiàn)信息。 間隔計時器通道2測試或失靈。
3B 用OPTI電路片(只是486)使輔助超高速緩沖存儲器作初始準備。 已顯示發(fā)現(xiàn)信息;虛擬方式，存儲器測試即將開始。 按日計算的日歷時鐘測試正在進行或失靈。
3C 建立允許進入CMOS設(shè)置的標志。 . 串行端口測試正在進行或失靈。
3D 初始化鍵盤/PS2鼠標/PNP設(shè)備及總內(nèi)存節(jié)點。 . 并行端口測試正在進行或失靈。
3E 嘗試打開L2高速緩存。 . 數(shù)學協(xié)處理器測試正在進行或失靈。
40 . 已開始準備虛擬方式的測試;即將從視頻存儲器來檢驗。 調(diào)整CPU速度，使之與外圍時鐘精確匹配。
41 中斷已打開，將初始化數(shù)據(jù)以便于0：0檢測內(nèi)存變換(中斷控制器或內(nèi)存不良) 從視頻存儲器檢驗之后復原;即將準備描述符表。 系統(tǒng)插件板選擇失靈。
42 顯示窗口進入SETUP。 描述符表已準備好;即將進行虛擬方式作存儲器測試。 擴展CMOS RAM故障。
43 若是即插即用BIOS，則串口、并口初始化。 進入虛擬方式;即將為診斷方式實現(xiàn)中斷。 .
44 . 已實現(xiàn)中斷(如已接通診斷開關(guān);即將使數(shù)據(jù)作初始準備以檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)。) BIOS中斷進行初始化。
45 初始化數(shù)學協(xié)處理器。 數(shù)據(jù)已作初始準備;即將檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)以及找出系統(tǒng)存儲器的規(guī)模。 .
46 . 測試存儲器已返回;存儲器大小計算完畢，即將寫入頁面來測試存儲器。 檢查只讀存儲器ROM版本。
47 . 即將在擴展的存儲器試寫頁面;即將基本640K存儲器寫入頁面。 .
48 . 已將基本存儲器寫入頁面;即將確定1MB以上的存儲器。 視頻檢查，CMOS重新配置。
49 . 找出1BM以下的存儲器并檢驗;即將確定1MB以上的存儲器。 .
4A . 找出1MB以上的存儲器并檢驗;即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 進行視頻的初始化。
4B . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)的檢驗結(jié)束，即將檢查和為軟復位清除1MB以上的存儲器。 .
4C . 清除1MB以上的存儲器(軟復位)即將清除1MB以上的存儲器. 屏蔽視頻BIOS ROM。.
4D 已清除1MB以上的存儲器(軟復位);將保存存儲器的大小。 .
4E 若檢測到有錯誤;在顯示器上顯示錯誤信息，并等待客戶按鍵繼續(xù)。 開始存儲器的測試：(無軟復位);即將顯示第一個64K存儲器的測試。 顯示版權(quán)信息。
4F 讀寫軟、硬盤數(shù)據(jù)，進行DOS引導。 開始顯示存儲器的大小，正在測試存儲器將使之更新;將進行串行和隨機的存儲器測試。 .
50 將當前BIOS監(jiān)時區(qū)內(nèi)的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存儲器測試;即將高速存儲器的大小以便再定位和掩蔽。 將CPU類型和速度送到屏幕。
51 . 測試1MB以上的存儲器。 .
52 所有ISA只讀存儲器ROM進行初始化，最終給PCI分配IRQ號等初始化工作。 已完成1MB以上的存儲器測試;即將準備回到實址方式。 進入鍵盤檢測。
53 如果不是即插即用BIOS，則初始化串口、并口和設(shè)置時種值。 保存CPU寄存器和存儲器的大小，將進入實址方式。 .
54 . 成功地開啟實址方式;即將復原準備停機時保存的寄存器。 掃描“打擊鍵”
55 . 寄存器已復原，將停用門電路A-20的地址線。 .
56 . 成功地停用A-20的地址線;即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 鍵盤測試結(jié)束。
57 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半;繼續(xù)進行。 .
58 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束;將清除發(fā)現(xiàn)信息。 非設(shè)置中斷測試。
59 . 已清除信息;信息已顯示;即將開始DMA和中斷控制器的測試。 .
5A . . 顯示按“F2”鍵進行設(shè)置。
5B . . 測試基本內(nèi)存地址。
5C . . 測試640K基本內(nèi)存。
60 設(shè)置硬盤引導扇區(qū)病毒保護功能。 通過DMA頁面寄存器的測試;即將檢驗視頻存儲器。 測試擴展內(nèi)存。
61 顯示系統(tǒng)配置表。 視頻存儲器檢驗結(jié)束;即將進行DMA#1基本寄存器的測試。 .
62 開始用中斷19H進行系統(tǒng)引導。 通過DMA#1基本寄存器的測試;即將進行DMA#2寄存器的測試。 測試擴展內(nèi)存地址線。
63 . 通過DMA#2基本寄存器的測試;即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 .
64 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半，繼續(xù)進行。 .
65 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束;將把DMA裝置1和2編程。 .
66 . DMA裝置1和2編程結(jié)束;即將使用59號中斷控制器作初始準備。 Cache注冊表進行優(yōu)化配置。
67 . 8259初始準備已結(jié)束;即將開始鍵盤測試。 .
68 . . 使外部Cache和CPU內(nèi)部Cache都工作。
6A . . 測試并顯示外部Cache值。
6C . . 顯示被屏蔽內(nèi)容。
6E . . 顯示附屬配置信息。
70 . . 檢測到的錯誤代碼送到屏幕顯示。
72 . . 檢測配置有否錯誤。
74 . . 測試實時時鐘。
76 . . 掃查鍵盤錯誤。
7A . . 鎖鍵盤。
7C . . 設(shè)置硬件中斷矢量。
7E . . 測試有否安裝數(shù)學處理器。
80 . 鍵盤測試開始，正在清除和檢查有沒有鍵卡住，即將使鍵盤復原。 關(guān)閉可編程輸入/輸出設(shè)備。
81 . 找出鍵盤復原的錯誤卡住的鍵;即將發(fā)出鍵盤控制端口的測試命令。 .
82 . 鍵盤控制器接口測試結(jié)束，即將寫入命令字節(jié)和使循環(huán)緩沖器作初始準備。 檢測和安裝固定RS232接口(串口)。
83 . 已寫入命令字節(jié)，已完成全局數(shù)據(jù)的初始準備;即將檢查有沒有鍵鎖住。 .
84 . 已檢查有沒有鎖住的鍵，即將檢查存儲器是否與CMOS失配。 檢測和安裝固定并行口。
85 . 已檢查存儲器的大小;即將顯示軟錯誤和口令或旁通安排。 .
86 . 已檢查口令;即將進行旁通安排前的編程。 重新打開可編程I/O設(shè)備和檢測固定I/O是否有沖突。
87 . 完成安排前的編程;將進行CMOS安排的編程。 .
88 . 從CMOS安排程序復原清除屏幕;即將進行后面的編程。 初始化BIOS數(shù)據(jù)區(qū)。
89 . 完成安排后的編程;即將顯示通電屏幕信息。 .
8A . 顯示頭一個屏幕信息。 進行擴展BIOS數(shù)據(jù)區(qū)初始化。
8B . 顯示了信息：即將屏蔽主要和視頻BIOS。 .
8C . 成功地屏蔽主要和視頻BIOS，將開始CMOS后的安排任選項的編程。 進行軟驅(qū)控制器初始化。
8D . 已經(jīng)安排任選項編程，接著檢查滑了鼠和進行初始準備。 .
8E . 檢測了滑鼠以及完成初始準備;即將把硬、軟磁盤復位。 .
8F . 軟磁盤已檢查，該磁碟將作初始準備，隨后配備軟磁碟。 .
90 . 軟磁碟配置結(jié)束;將測試硬磁碟的存在。 硬盤控制器進行初始化。
91 . 硬磁碟存在測試結(jié)束;隨后配置硬磁碟。 局部總線硬盤控制器初始化。
92 . 硬磁碟配置完成;即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 跳轉(zhuǎn)到用戶路徑2。
93 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)已檢查一半;繼續(xù)進行。 .
94 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查完畢，即調(diào)定基本和擴展存儲器的大小。 關(guān)閉A-20地址線。
95 . 因應滑鼠和硬磁碟47型支持而調(diào)節(jié)好存儲器的大小;即將檢驗顯示存儲器。 .
96 . 檢驗顯示存儲器后復原;即將進行C800：0任選ROM控制之前的初始準備。 “ES段”注冊表清除。
97 . C800：0任選ROM控制之前的任何初始準備結(jié)束，接著進行任選ROM的檢查及控制。 .
98 . 任選ROM的控制完成;即將進行任選ROM回復控制之后所需的任何處理。 查找ROM選擇。
99 . 任選ROM測試之后所需的任何初始準備結(jié)束;即將建立計時器的數(shù)據(jù)區(qū)或打印機基本地址。 .
9A . 調(diào)定計時器和打印機基本地址后的返回操作;即調(diào)定RS-232基本地址。 屏蔽ROM選擇。
9B . 在RS-232基本地址之后返回;即將進行協(xié)處理器測試之初始準備。 .
9C . 協(xié)處理器測試之前所需初始準備結(jié)束;接著使協(xié)處理器作初始準備。 建立電源節(jié)能管理。
9D . 協(xié)處理器作好初始準備，即將進行協(xié)處理器測試之后的任何初始準備。 .
9E . 完成協(xié)處理器之后的初始準備，將檢查擴展鍵盤，鍵盤識別符，以及數(shù)字鎖定。 開放硬件中斷。
9F . 已檢查擴展鍵盤，調(diào)定識別標志，數(shù)字鎖接通或斷開，將發(fā)出鍵盤識別命令。 .
A0 . 發(fā)出鍵盤識別命令;即將使鍵盤識別標志復原。 設(shè)置時間和日期。
A1 . 鍵盤識別標志復原;接著進行高速緩沖存儲器的測試。 .
A2 . 高速緩沖存儲器測試結(jié)束;即將顯示任何軟錯誤。 檢查鍵盤鎖。
A3 . 軟錯誤顯示完畢;即將調(diào)定鍵盤打擊的速率。 .
A4 . 調(diào)好鍵盤的打擊速率，即將制訂存儲器的等待狀態(tài)。 鍵盤重復輸入速率的初始化。
A5 . 存儲器等候狀態(tài)制定完畢;接著將清除屏幕。 .
A6 . 屏幕已清除;即將啟動奇偶性和不可屏蔽中斷。 .
A7 . 已啟用不可屏蔽中斷和奇偶性;即將進行控制任選的ROM在E000：0之所需的任何初始準備。 .
A8 . 控制ROM在E000：0之前的初始準備結(jié)束，接著將控制E000：0之后所需的任何初始準備。 清除“F2”鍵提示。
A9 . 從控制E000：0 ROM返回，即將進行控制E000：0任選ROM之后所需的任何初始準備。 .
AA . 在E000：0控制任選ROM之后的初始準備結(jié)束;即將顯示系統(tǒng)的配置。 掃描“F2”鍵打擊。
AC . . 進入設(shè)置.
AE . . 清除通電自檢標志。
B0 . . 檢查非關(guān)鍵性錯誤。
B2 . . 通電自檢完成準備進入操作系統(tǒng)引導。
B4 . . 蜂鳴器響一聲。
B6 . . 檢測密碼設(shè)置(可選)。
B8 . . 清除全部描述表。
BC . . 清除校驗檢查值。
BE 程序缺省值進入控制芯片，符合可調(diào)制二進制缺省值表。 . 清除屏幕(可選)。
BF 測試CMOS建立值。 . 檢測病毒，提示做資料備份。
C0 初始化高速緩存。 . 用中斷19試引導。
C1 內(nèi)存自檢。 . 查找引導扇區(qū)中的“55”“AA”標記。
C3 第一個256K內(nèi)存測試。 . .
C5 從ROM內(nèi)復制BIOS進行快速自檢。 . .
C6 高速緩存自檢。 . .
CA 檢測Micronies超速緩沖存儲器(如果存在)，并使之作初始準備。 . .
CC 關(guān)斷不可屏蔽中斷處理器。 . .
EE 處理器意料不到的例外情況。 . .
FF 給予INI19引導裝入程序的控制，主板OK
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