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臺式機(jī)測試卡怎么樣使用

時(shí)間: 林輝766 分享

  想用臺式機(jī)測試卡來測試下臺式機(jī),不會使用怎么辦呢?下面由學(xué)習(xí)啦小編給你做出詳細(xì)的臺式機(jī)測試卡使用方法介紹!希望對你有幫助!

  臺式機(jī)測試卡使用方法一:

  首先把DEBUG卡插到故障主板上,CPU、內(nèi)存、擴(kuò)充卡都不插,只插上主板的電源,此時(shí),主振燈應(yīng)亮,否則主板不起振;復(fù)位信號燈應(yīng)亮半秒種后熄滅,若不亮,則主板無復(fù)位信號而不能用,如果常亮,則主板總處于復(fù)位狀態(tài),無法向下進(jìn)行,初學(xué)者常把加速開關(guān)線當(dāng)成復(fù)位線插到了復(fù)位插針上,導(dǎo)致復(fù)位燈常亮,復(fù)位電路損壞也會導(dǎo)致此故障;分頻信號燈應(yīng)亮,否則說明分頻部分有故障;+5V、-5V、+12V、-12V(新式卡多了+3V、-3V)四個(gè)(六個(gè))電源指示燈應(yīng)足夠亮,不亮或亮度不夠,說明開關(guān)電源輸出不正常,或者是主板

  對電源短路或開路;BIOS信號燈因無CPU不亮是正常的,但若插上完好的CPU后,BIOS燈應(yīng)無規(guī)則的閃亮,否則說明CPU壞或跳線不正確或主板損壞。DEBUG 2000的這一功能相當(dāng)有效,象-5V、-12V的電壓值在PC組件中極少用到,新攢的或使用已久的PC電源,其-5V和-12V可能已經(jīng)損壞,平時(shí)雖相安無事,出了問題卻會讓你頭疼,現(xiàn)在,通過DEBUG卡上的批示燈就可方便地解決這個(gè)問題。排除了以上簡單的故障后,把有關(guān)的擴(kuò)展卡插上(一般是只組成最小系統(tǒng)),根據(jù)開機(jī)后顯示的代碼,就可以直接找到有問題的配件,從而方便地解決裝機(jī)時(shí)出現(xiàn)的硬件錯(cuò)誤,比如內(nèi)存、顯卡、CPU等硬件的接觸錯(cuò)誤,BIOS,CPU緩存的功能錯(cuò)誤等。

  臺式機(jī)測試卡使用方法二:

  電腦插獨(dú)顯的那個(gè)插槽下面不是還有插槽嗎?測試卡插上就能用,不要專門安裝驅(qū)動的,不過測試燈怎么變化而表示什么故障就不得而知了,我不是專業(yè)修電腦的,只是自己的破電腦弄過兩次胡亂倒騰好了。

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  臺式機(jī)測試卡對照表

  電腦主板故障診斷卡代碼對照表

  00 . 已顯示系統(tǒng)的配置;即將控制INI19引導(dǎo)裝入。 .

  01 處理器測試1,處理器狀態(tài)核實(shí),如果測試失敗,循環(huán)是無限的。 處理器寄存器的測試即將開始,不可屏蔽中斷即將停用。 CPU寄存器測試正在進(jìn)行或者失敗。

  02 確定診斷的類型(正?;蛘咧圃?。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會失效。 停用不可屏蔽中斷;通過延遲開始。 CMOS寫入/讀出正在進(jìn)行或者失靈。

  03 清除8042鍵盤控制器,發(fā)出TESTKBRD命令(AAH) 通電延遲已完成。 ROM BIOS檢查部件正在進(jìn)行或失靈。

  04 使8042鍵盤控制器復(fù)位,核實(shí)TESTKBRD。 鍵盤控制器軟復(fù)位/通電測試。 可編程間隔計(jì)時(shí)器的測試正在進(jìn)行或失靈。

  05 如果不斷重復(fù)制造測試1至5,可獲得8042控制狀態(tài)。 已確定軟復(fù)位/通電;即將啟動ROM。 DMA初如準(zhǔn)備正在進(jìn)行或者失靈。

  06 使電路片作初始準(zhǔn)備,停用視頻、奇偶性、DMA電路片,以及清除DMA電路片,所有頁面寄存器和CMOS停機(jī)字節(jié)。 已啟動ROM計(jì)算ROM BIOS檢查總和,以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。 DMA初始頁面寄存器讀/寫測試正在進(jìn)行或失靈。

  07 處理器測試2,核實(shí)CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常,鍵盤緩沖器已清除,向鍵盤發(fā)出BAT(基本保證測試)命令。 .

  08 使CMOS計(jì)時(shí)器作初始準(zhǔn)備,正常的更新計(jì)時(shí)器的循環(huán)。 已向鍵盤發(fā)出BAT命令,即將寫入BAT命令。 RAM更新檢驗(yàn)正在進(jìn)行或失靈。

  09 EPROM檢查總和且必須等于零才通過。 核實(shí)鍵盤的基本保證測試,接著核實(shí)鍵盤命令字節(jié)。 第一個(gè)64K RAM測試正在進(jìn)行。

  0A 使視頻接口作初始準(zhǔn)備。 發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼,即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。 第一個(gè)64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈,移位。

  0B 測試8254通道0。 寫入鍵盤控制器命令字節(jié),即將發(fā)出引腳23和24的封鎖/解鎖命令。 第一個(gè)64K RAM奇/偶邏輯失靈。

  0C 測試8254通道1。 鍵盤控制器引腳23、24已封鎖/解鎖;已發(fā)出NOP命令。 第一個(gè)64K RAN的地址線故障。

  0D 1、檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時(shí)鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。3、視頻通道測試,如果失敗,則鳴喇叭。 已處理NOP命令;接著測試CMOS停開寄存器。 第一個(gè)64K RAM的奇偶性失靈

  0E 測試CMOS停機(jī)字節(jié)。 CMOS停開寄存器讀/寫測試;將計(jì)算CMOS檢查總和。 初始化輸入/輸出端口地址。

  0F 測試擴(kuò)展的CMOS。 已計(jì)算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié);CMOS開始初始準(zhǔn)備。 .

  10 測試DMA通道0。 CMOS已作初始準(zhǔn)備,CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時(shí)間作初始準(zhǔn)備。 第一個(gè)64K RAM第0位故障。

  11 測試DMA通道1。 CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準(zhǔn)備,即將停用DMA和中斷控制器。 第一個(gè)64DK RAM第1位故障。

  12 測試DMA頁面寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2;即將視頻顯示器并使端口B作初始準(zhǔn)備。 第一個(gè)64DK RAM第2位故障。

  13 測試8741鍵盤控制器接口。 視頻顯示器已停用,端口B已作初始準(zhǔn)備;即將開始電路片初始化/存儲器自動檢測。 第一個(gè)64DK RAM第3位故障。

  14 測試存儲器更新觸發(fā)電路。 電路片初始化/存儲器處自動檢測結(jié)束;8254計(jì)時(shí)器測試即將開始。 第一個(gè)64DK RAM第4位故障。

  15 測試開頭64K的系統(tǒng)存儲器。 第2通道計(jì)時(shí)器測試了一半;8254第2通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第5位故障。

  16 建立8259所用的中斷矢量表。 第2通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束;8254第1通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第6位故障。

  17 調(diào)準(zhǔn)視頻輸入/輸出工作,若裝有視頻BIOS則啟用。 第1通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束;8254第0通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第7位故障。

  18 測試視頻存儲器,如果安裝選用的視頻BIOS通過,由可繞過。 第0通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束;即將開始更新存儲器。 第一個(gè)64DK RAM第8位故障。

  19 測試第1通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。 已開始更新存儲器,接著將完成存儲器的更新。 第一個(gè)64DK RAM第9位故障。

  1A 測試第2通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲器更新線路,即將檢查15微秒通/斷時(shí)間。 第一個(gè)64DK RAM第10位故障。

  1B 測試CMOS電池電平。 完成存儲器更新時(shí)間30微秒測試;即將開始基本的64K存儲器測試。 第一個(gè)64DK RAM第11位故障。

  1C 測試CMOS檢查總和。 . 第一個(gè)64DK RAM第12位故障。

  1D 調(diào)定CMOS配置。 . 第一個(gè)64DK RAM第13位故障。

  1E 測定系統(tǒng)存儲器的大小,并且把它和CMOS值比較。 . 第一個(gè)64DK RAM第14位故障。

  1F 測試64K存儲器至最高640K。 . 第一個(gè)64DK RAM第15位故障。

  20 測量固定的8259中斷位。 開始基本的64K存儲器測試;即將測試地址線。 從屬DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。

  21 維持不可屏蔽中斷(NMI)位(奇偶性或輸入/輸出通道的檢查)。 通過地址線測試;即將觸發(fā)奇偶性。 主DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。

  22 測試8259的中斷功能。 結(jié)束觸發(fā)奇偶性;將開始串行數(shù)據(jù)讀/寫測試。 主中斷屏蔽寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。

  23 測試保護(hù)方式8086虛擬方式和8086頁面方式。 基本的64K串行數(shù)據(jù)讀/寫測試正常;即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。 從屬中斷屏蔽存器測試正在進(jìn)行或失靈。

  24 測定1MB以上的擴(kuò)展存儲器。 矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成,即將開始中斷矢量的初始準(zhǔn)備。 設(shè)置ES段地址寄存器注冊表到內(nèi)存高端。

  25 測試除頭一個(gè)64K之后的所有存儲器。 完成中斷矢量初始準(zhǔn)備;將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始讀出8042的輸入/輸出端口。 裝入中斷矢量正在進(jìn)行或失靈。

  26 測試保護(hù)方式的例外情況。 讀出8042的輸入/輸出端口;即將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始使全局?jǐn)?shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備。 開啟A20地址線;使之參入尋址。

  27 確定超高速緩沖存儲器的控制或屏蔽RAM。 全1數(shù)據(jù)初始準(zhǔn)備結(jié)束;接著將進(jìn)行中斷矢量之后的任何初始準(zhǔn)備。 鍵盤控制器測試正在進(jìn)行或失靈。

  28 確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。 完成中斷矢量之后的初始準(zhǔn)備;即將調(diào)定單色方式。 CMOS電源故障/檢查總和計(jì)算正在進(jìn)行。

  29 . 已調(diào)定單色方式,即將調(diào)定彩色方式。 CMOS配置有效性的檢查正在進(jìn)行。

  2A 使鍵盤控制器作初始準(zhǔn)備。 已調(diào)定彩色方式,即將進(jìn)行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。 置空64K基本內(nèi)存。

  2B 使磁碟驅(qū)動器和控制器作初始準(zhǔn)備。 觸發(fā)奇偶性結(jié)束;即將控制任選的視頻ROM檢查前所需的任何調(diào)節(jié)。 屏幕存儲器測試正在進(jìn)行或失靈。

  2C 檢查串行端口,并使之作初始準(zhǔn)備。 完成視頻ROM控制之前的處理;即將查看任選的視頻ROM并加以控制。 屏幕初始準(zhǔn)備正在進(jìn)行或失靈。

  2D 檢測并行端口,并使之作初始準(zhǔn)備。 已完成任選的視頻ROM控制,即將進(jìn)行視頻ROM回復(fù)控制之后任何其他處理的控制。 屏幕回掃測試正在進(jìn)行或失靈。

  2E 使硬磁盤驅(qū)動器和控制器作初始準(zhǔn)備。 從視頻ROM控制之后的處理復(fù)原;如果沒有發(fā)現(xiàn)EGA/VGA就要進(jìn)行顯示器存儲器讀/寫測試。 檢測視頻ROM正在進(jìn)行。

  2F 檢測數(shù)學(xué)協(xié)處理器,并使之作初始準(zhǔn)備。 沒發(fā)現(xiàn)EGA/VGA;即將開始顯示器存儲器讀/寫測試。 .

  30 建立基本內(nèi)存和擴(kuò)展內(nèi)存。 通過顯示器存儲器讀/寫測試;即將進(jìn)行掃描檢查。 認(rèn)為屏幕是可以工作的。

  31 檢測從C800:0至EFFF:0的選用ROM,并使之作初始準(zhǔn)備。 顯示器存儲器讀/寫測試或掃描檢查失敗,即將進(jìn)行另一種顯示器存儲器讀/寫測試。 單色監(jiān)視器是可以工作的。

  32 對主板上COM/LTP/FDD/聲音設(shè)備等I/O芯片編程使之適合設(shè)置值。 通過另一種顯示器存儲器讀/寫測試;卻將進(jìn)行另一種顯示器掃描檢查。 彩色監(jiān)視器(40列)是可以工作的。

  33 . 視頻顯示器檢查結(jié)束;將開始利用調(diào)節(jié)開關(guān)和實(shí)際插卡檢驗(yàn)顯示器的關(guān)型。 彩色監(jiān)視器(80列)是可以工作的。

  34 . 已檢驗(yàn)顯示器適配器;接著將調(diào)定顯示方式。 計(jì)時(shí)器滴答聲中斷測試正在進(jìn)行或失靈。

  35 . 完成調(diào)定顯示方式;即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 停機(jī)測試正在進(jìn)行或失靈。

  36 . 已檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū);即將調(diào)定通電信息的游標(biāo)。 門電路中A-20失靈。

  37 . 識別通電信息的游標(biāo)調(diào)定已完成;即將顯示通電信息。 保護(hù)方式中的意外中斷。

  38 . 完成顯示通電信息;即將讀出新的游標(biāo)位置。 RAM測試正在進(jìn)行或者地址故障>FFFFH。

  39 . 已讀出保存游標(biāo)位置,即將顯示引用信息串。 .

  3A . 引用信息串顯示結(jié)束;即將顯示發(fā)現(xiàn)信息。 間隔計(jì)時(shí)器通道2測試或失靈。

  3B 用OPTI電路片(只是486)使輔助超高速緩沖存儲器作初始準(zhǔn)備。 已顯示發(fā)現(xiàn)信息;虛擬方式,存儲器測試即將開始。 按日計(jì)算的日歷時(shí)鐘測試正在進(jìn)行或失靈。

  3C 建立允許進(jìn)入CMOS設(shè)置的標(biāo)志。 . 串行端口測試正在進(jìn)行或失靈。

  3D 初始化鍵盤/PS2鼠標(biāo)/PNP設(shè)備及總內(nèi)存節(jié)點(diǎn)。 . 并行端口測試正在進(jìn)行或失靈。

  3E 嘗試打開L2高速緩存。 . 數(shù)學(xué)協(xié)處理器測試正在進(jìn)行或失靈。

  40 . 已開始準(zhǔn)備虛擬方式的測試;即將從視頻存儲器來檢驗(yàn)。 調(diào)整CPU速度,使之與外圍時(shí)鐘精確匹配。

  41 中斷已打開,將初始化數(shù)據(jù)以便于0:0檢測內(nèi)存變換(中斷控制器或內(nèi)存不良) 從視頻存儲器檢驗(yàn)之后復(fù)原;即將準(zhǔn)備描述符表。 系統(tǒng)插件板選擇失靈。

  42 顯示窗口進(jìn)入SETUP。 描述符表已準(zhǔn)備好;即將進(jìn)行虛擬方式作存儲器測試。 擴(kuò)展CMOS RAM故障。

  43 若是即插即用BIOS,則串口、并口初始化。 進(jìn)入虛擬方式;即將為診斷方式實(shí)現(xiàn)中斷。 .

  44 . 已實(shí)現(xiàn)中斷(如已接通診斷開關(guān);即將使數(shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備以檢查存儲器在0:0返轉(zhuǎn)。) BIOS中斷進(jìn)行初始化。

  45 初始化數(shù)學(xué)協(xié)處理器。 數(shù)據(jù)已作初始準(zhǔn)備;即將檢查存儲器在0:0返轉(zhuǎn)以及找出系統(tǒng)存儲器的規(guī)模。 .

  46 . 測試存儲器已返回;存儲器大小計(jì)算完畢,即將寫入頁面來測試存儲器。 檢查只讀存儲器ROM版本。

  47 . 即將在擴(kuò)展的存儲器試寫頁面;即將基本640K存儲器寫入頁面。 .

  48 . 已將基本存儲器寫入頁面;即將確定1MB以上的存儲器。 視頻檢查,CMOS重新配置。

  49 . 找出1BM以下的存儲器并檢驗(yàn);即將確定1MB以上的存儲器。 .

  4A . 找出1MB以上的存儲器并檢驗(yàn);即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 進(jìn)行視頻的初始化。

  4B . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)的檢驗(yàn)結(jié)束,即將檢查和為軟復(fù)位清除1MB以上的存儲器。 .

  4C . 清除1MB以上的存儲器(軟復(fù)位)即將清除1MB以上的存儲器. 屏蔽視頻BIOS ROM。.

  4D 已清除1MB以上的存儲器(軟復(fù)位);將保存存儲器的大小。 .

  4E 若檢測到有錯(cuò)誤;在顯示器上顯示錯(cuò)誤信息,并等待客戶按鍵繼續(xù)。 開始存儲器的測試:(無軟復(fù)位);即將顯示第一個(gè)64K存儲器的測試。 顯示版權(quán)信息。

  4F 讀寫軟、硬盤數(shù)據(jù),進(jìn)行DOS引導(dǎo)。 開始顯示存儲器的大小,正在測試存儲器將使之更新;將進(jìn)行串行和隨機(jī)的存儲器測試。 .

  50 將當(dāng)前BIOS監(jiān)時(shí)區(qū)內(nèi)的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存儲器測試;即將高速存儲器的大小以便再定位和掩蔽。 將CPU類型和速度送到屏幕。

  51 . 測試1MB以上的存儲器。 .

  52 所有ISA只讀存儲器ROM進(jìn)行初始化,最終給PCI分配IRQ號等初始化工作。 已完成1MB以上的存儲器測試;即將準(zhǔn)備回到實(shí)址方式。 進(jìn)入鍵盤檢測。

  53 如果不是即插即用BIOS,則初始化串口、并口和設(shè)置時(shí)種值。 保存CPU寄存器和存儲器的大小,將進(jìn)入實(shí)址方式。 .

  54 . 成功地開啟實(shí)址方式;即將復(fù)原準(zhǔn)備停機(jī)時(shí)保存的寄存器。 掃描“打擊鍵”

  55 . 寄存器已復(fù)原,將停用門電路A-20的地址線。 .

  56 . 成功地停用A-20的地址線;即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 鍵盤測試結(jié)束。

  57 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半;繼續(xù)進(jìn)行。 .

  58 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束;將清除發(fā)現(xiàn)信息。 非設(shè)置中斷測試。

  59 . 已清除信息;信息已顯示;即將開始DMA和中斷控制器的測試。 .

  5A . . 顯示按“F2”鍵進(jìn)行設(shè)置。

  5B . . 測試基本內(nèi)存地址。

  5C . . 測試640K基本內(nèi)存。

  60 設(shè)置硬盤引導(dǎo)扇區(qū)病毒保護(hù)功能。 通過DMA頁面寄存器的測試;即將檢驗(yàn)視頻存儲器。 測試擴(kuò)展內(nèi)存。

  61 顯示系統(tǒng)配置表。 視頻存儲器檢驗(yàn)結(jié)束;即將進(jìn)行DMA#1基本寄存器的測試。 .

  62 開始用中斷19H進(jìn)行系統(tǒng)引導(dǎo)。 通過DMA#1基本寄存器的測試;即將進(jìn)行DMA#2寄存器的測試。 測試擴(kuò)展內(nèi)存地址線。

  63 . 通過DMA#2基本寄存器的測試;即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 .

  64 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半,繼續(xù)進(jìn)行。 .

  65 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束;將把DMA裝置1和2編程。 .

  66 . DMA裝置1和2編程結(jié)束;即將使用59號中斷控制器作初始準(zhǔn)備。 Cache注冊表進(jìn)行優(yōu)化配置。

  67 . 8259初始準(zhǔn)備已結(jié)束;即將開始鍵盤測試。 .

  68 . . 使外部Cache和CPU內(nèi)部Cache都工作。

  6A . . 測試并顯示外部Cache值。

  6C . . 顯示被屏蔽內(nèi)容。

  6E . . 顯示附屬配置信息。

  70 . . 檢測到的錯(cuò)誤代碼送到屏幕顯示。

  72 . . 檢測配置有否錯(cuò)誤。

  74 . . 測試實(shí)時(shí)時(shí)鐘。

  76 . . 掃查鍵盤錯(cuò)誤。

  7A . . 鎖鍵盤。

  7C . . 設(shè)置硬件中斷矢量。

  7E . . 測試有否安裝數(shù)學(xué)處理器。

  80 . 鍵盤測試開始,正在清除和檢查有沒有鍵卡住,即將使鍵盤復(fù)原。 關(guān)閉可編程輸入/輸出設(shè)備。

  81 . 找出鍵盤復(fù)原的錯(cuò)誤卡住的鍵;即將發(fā)出鍵盤控制端口的測試命令。 .

  82 . 鍵盤控制器接口測試結(jié)束,即將寫入命令字節(jié)和使循環(huán)緩沖器作初始準(zhǔn)備。 檢測和安裝固定RS232接口(串口)。

  83 . 已寫入命令字節(jié),已完成全局?jǐn)?shù)據(jù)的初始準(zhǔn)備;即將檢查有沒有鍵鎖住。 .

  84 . 已檢查有沒有鎖住的鍵,即將檢查存儲器是否與CMOS失配。 檢測和安裝固定并行口。

  85 . 已檢查存儲器的大小;即將顯示軟錯(cuò)誤和口令或旁通安排。 .

  86 . 已檢查口令;即將進(jìn)行旁通安排前的編程。 重新打開可編程I/O設(shè)備和檢測固定I/O是否有沖突。

  87 . 完成安排前的編程;將進(jìn)行CMOS安排的編程。 .

  88 . 從CMOS安排程序復(fù)原清除屏幕;即將進(jìn)行后面的編程。 初始化BIOS數(shù)據(jù)區(qū)。

  89 . 完成安排后的編程;即將顯示通電屏幕信息。 .

  8A . 顯示頭一個(gè)屏幕信息。 進(jìn)行擴(kuò)展BIOS數(shù)據(jù)區(qū)初始化。

  8B . 顯示了信息:即將屏蔽主要和視頻BIOS。 .

  8C . 成功地屏蔽主要和視頻BIOS,將開始CMOS后的安排任選項(xiàng)的編程。 進(jìn)行軟驅(qū)控制器初始化。

  8D . 已經(jīng)安排任選項(xiàng)編程,接著檢查滑了鼠和進(jìn)行初始準(zhǔn)備。 .

  8E . 檢測了滑鼠以及完成初始準(zhǔn)備;即將把硬、軟磁盤復(fù)位。 .

  8F . 軟磁盤已檢查,該磁碟將作初始準(zhǔn)備,隨后配備軟磁碟。 .

  90 . 軟磁碟配置結(jié)束;將測試硬磁碟的存在。 硬盤控制器進(jìn)行初始化。

  91 . 硬磁碟存在測試結(jié)束;隨后配置硬磁碟。 局部總線硬盤控制器初始化。

  92 . 硬磁碟配置完成;即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 跳轉(zhuǎn)到用戶路徑2。

  93 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)已檢查一半;繼續(xù)進(jìn)行。 .

  94 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查完畢,即調(diào)定基本和擴(kuò)展存儲器的大小。 關(guān)閉A-20地址線。

  95 . 因應(yīng)滑鼠和硬磁碟47型支持而調(diào)節(jié)好存儲器的大小;即將檢驗(yàn)顯示存儲器。 .

  96 . 檢驗(yàn)顯示存儲器后復(fù)原;即將進(jìn)行C800:0任選ROM控制之前的初始準(zhǔn)備。 “ES段”注冊表清除。

  97 . C800:0任選ROM控制之前的任何初始準(zhǔn)備結(jié)束,接著進(jìn)行任選ROM的檢查及控制。 .

  98 . 任選ROM的控制完成;即將進(jìn)行任選ROM回復(fù)控制之后所需的任何處理。 查找ROM選擇。

  99 . 任選ROM測試之后所需的任何初始準(zhǔn)備結(jié)束;即將建立計(jì)時(shí)器的數(shù)據(jù)區(qū)或打印機(jī)基本地址。 .

  9A . 調(diào)定計(jì)時(shí)器和打印機(jī)基本地址后的返回操作;即調(diào)定RS-232基本地址。 屏蔽ROM選擇。

  9B . 在RS-232基本地址之后返回;即將進(jìn)行協(xié)處理器測試之初始準(zhǔn)備。 .

  9C . 協(xié)處理器測試之前所需初始準(zhǔn)備結(jié)束;接著使協(xié)處理器作初始準(zhǔn)備。 建立電源節(jié)能管理。

  9D . 協(xié)處理器作好初始準(zhǔn)備,即將進(jìn)行協(xié)處理器測試之后的任何初始準(zhǔn)備。 .

  9E . 完成協(xié)處理器之后的初始準(zhǔn)備,將檢查擴(kuò)展鍵盤,鍵盤識別符,以及數(shù)字鎖定。 開放硬件中斷。

  9F . 已檢查擴(kuò)展鍵盤,調(diào)定識別標(biāo)志,數(shù)字鎖接通或斷開,將發(fā)出鍵盤識別命令。 .

  A0 . 發(fā)出鍵盤識別命令;即將使鍵盤識別標(biāo)志復(fù)原。 設(shè)置時(shí)間和日期。

  A1 . 鍵盤識別標(biāo)志復(fù)原;接著進(jìn)行高速緩沖存儲器的測試。 .

  A2 . 高速緩沖存儲器測試結(jié)束;即將顯示任何軟錯(cuò)誤。 檢查鍵盤鎖。

  A3 . 軟錯(cuò)誤顯示完畢;即將調(diào)定鍵盤打擊的速率。 .

  A4 . 調(diào)好鍵盤的打擊速率,即將制訂存儲器的等待狀態(tài)。 鍵盤重復(fù)輸入速率的初始化。

  A5 . 存儲器等候狀態(tài)制定完畢;接著將清除屏幕。 .

  A6 . 屏幕已清除;即將啟動奇偶性和不可屏蔽中斷。 .

  A7 . 已啟用不可屏蔽中斷和奇偶性;即將進(jìn)行控制任選的ROM在E000:0之所需的任何初始準(zhǔn)備。 .

  A8 . 控制ROM在E000:0之前的初始準(zhǔn)備結(jié)束,接著將控制E000:0之后所需的任何初始準(zhǔn)備。 清除“F2”鍵提示。

  A9 . 從控制E000:0 ROM返回,即將進(jìn)行控制E000:0任選ROM之后所需的任何初始準(zhǔn)備。 .

  AA . 在E000:0控制任選ROM之后的初始準(zhǔn)備結(jié)束;即將顯示系統(tǒng)的配置。 掃描“F2”鍵打擊。

  AC . . 進(jìn)入設(shè)置.

  AE . . 清除通電自檢標(biāo)志。

  B0 . . 檢查非關(guān)鍵性錯(cuò)誤。

  B2 . . 通電自檢完成準(zhǔn)備進(jìn)入操作系統(tǒng)引導(dǎo)。

  B4 . . 蜂鳴器響一聲。

  B6 . . 檢測密碼設(shè)置(可選)。

  B8 . . 清除全部描述表。

  BC . . 清除校驗(yàn)檢查值。

  BE 程序缺省值進(jìn)入控制芯片,符合可調(diào)制二進(jìn)制缺省值表。 . 清除屏幕(可選)。

  BF 測試CMOS建立值。 . 檢測病毒,提示做資料備份。

  C0 初始化高速緩存。 . 用中斷19試引導(dǎo)。

  C1 內(nèi)存自檢。 . 查找引導(dǎo)扇區(qū)中的“55”“AA”標(biāo)記。

  C3 第一個(gè)256K內(nèi)存測試。 . .

  C5 從ROM內(nèi)復(fù)制BIOS進(jìn)行快速自檢。 . .

  C6 高速緩存自檢。 . .

  CA 檢測Micronies超速緩沖存儲器(如果存在),并使之作初始準(zhǔn)備。 . .

  CC 關(guān)斷不可屏蔽中斷處理器。 . .

  EE 處理器意料不到的例外情況。 . .

  FF 給予INI19引導(dǎo)裝入程序的控制,主板OK

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