主板故障診斷卡2e
主板故障診斷卡2e
在有些時(shí)候我們的主板故障會(huì)診斷2e的情況,那么該怎么去解決這個(gè)問(wèn)題呢?那么下面就由學(xué)習(xí)啦小編來(lái)給你們說(shuō)說(shuō)吧,希望可以幫到你們哦!
主板故障診斷卡2e的解決方法
分析及解決:
診斷卡顯示2E 并有滴滴的聲響,說(shuō)明顯卡有問(wèn)題。
解決方法:可查看顯卡金手指是否臟,擦拭金手指,并刷干凈主板PCE-E插槽,重新試下,看故障是否依然。否則,顯卡壞,送修。
相關(guān)延伸:
主板診斷卡,特殊代碼"00"和"ff"及其它起始碼有三種情況出現(xiàn):
?、僖延梢幌盗衅渌a之后再出現(xiàn):"00"或"ff",則主板ok。
?、谌绻麑mos中設(shè)置無(wú)錯(cuò)誤,則不嚴(yán)重的故障不會(huì)影響bios自檢的繼續(xù),而最終出現(xiàn)"00"或"ff"。
③一開(kāi)機(jī)就出現(xiàn)"00"或"ff"或其它起始代碼并且不變化則為主板沒(méi)有運(yùn)行起來(lái)。
對(duì)于不同的主板BIOS,檢測(cè)卡檢驗(yàn)出來(lái)的代碼是不一樣的,但是檢測(cè)卡也不是十全十美,所以他只是提供給我們一個(gè)參考!
主板故障碼:
C0:開(kāi)機(jī)檢測(cè)代碼顯示C0,這為主板BIOS故障或者主板芯片已壞
C1:C1本為檢測(cè)是否內(nèi)存通過(guò),停止即為不過(guò),但是主板也有故障嫌疑的 C3:內(nèi)存問(wèn)題
D3、D4:此都為內(nèi)存問(wèn)題,但是主板內(nèi)存插槽也有可能,多數(shù)出在AMD的板上,這時(shí)可以把CPU風(fēng)扇拿出來(lái),上緊CPU再進(jìn)行通電測(cè)試
25: 25為顯卡或插槽問(wèn)題,一般清過(guò)主板BIOS就能亮機(jī)。不然就換過(guò)顯卡 26或者2b:亮機(jī),不亮機(jī)考慮顯卡 31:顯卡或插槽問(wèn)題 45:顯卡問(wèn)題
00:剛開(kāi)機(jī)就直接到00或者FF是CPU或者主板芯片壞
FF:剛開(kāi)機(jī)就直接到00或者FF是CPU或者主板芯片壞,也可能是供電不足(20樓提出,表示感謝) 13:在AMI BIOS13是正常
75:BIOS故障,重設(shè)BIOS即可
00:開(kāi)機(jī)代碼轉(zhuǎn)到最后顯示為這個(gè)為正常已經(jīng)亮機(jī) FF:開(kāi)機(jī)代碼轉(zhuǎn)到最后顯示為這個(gè)為正常已經(jīng)亮機(jī)
目前寫到這里,今晚再想下維修中顯示的代碼那些,希望各位朋友也幫忙補(bǔ)充!!
原:檢測(cè)卡說(shuō)明書代碼含義
代碼 Award BIOS Ami BIOS Phoenix BIOS或Tandy 3000 BIOS 00 . 已顯示系統(tǒng)的配置;即將控制INI19引導(dǎo)裝入。 .
01 處理器測(cè)試1,處理器狀態(tài)核實(shí),如果測(cè)試失敗,循環(huán)是無(wú)限的。 處理器寄存器的測(cè)試即將開(kāi)始,不可屏蔽中斷即將停用。 CPU寄存器測(cè)試正在進(jìn)行或者失敗。
02 確定診斷的類型(正?;蛘咧圃?。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會(huì)失效。 停用不可屏蔽中斷;通過(guò)延遲開(kāi)始。 CMOS寫入/讀出正在進(jìn)行或者失靈。
03 清除8042鍵盤控制器,發(fā)出TESTKBRD命令(AAH) 通電延遲已完成。 ROM BIOS檢查部件正在進(jìn)行或失靈。
04 使8042鍵盤控制器復(fù)位,核實(shí)TESTKBRD。 鍵盤控制器軟復(fù)位/通電測(cè)試。 可編程間隔計(jì)時(shí)器的測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。
05 如果不斷重復(fù)制造測(cè)試1至5,可獲得8042控制狀態(tài)。 已確定軟復(fù)位/通電;即將啟動(dòng)ROM。 DMA初如準(zhǔn)備正在進(jìn)行或者失靈。
06 使電路片作初始準(zhǔn)備,停用視頻、奇偶性、DMA電路片,以及清除DMA電路片,所有頁(yè)面寄存器和CMOS停機(jī)字節(jié)。 已啟動(dòng)ROM計(jì)算ROM BIOS檢查總和,以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。 DMA初始頁(yè)面寄存器讀/寫測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。
07 處理器測(cè)試2,核實(shí)CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常,鍵盤緩沖器已清除,向鍵盤發(fā)出BAT(基本保證測(cè)試)命令。 .
08 使CMOS計(jì)時(shí)器作初始準(zhǔn)備,正常的更新計(jì)時(shí)器的循環(huán)。 已向鍵盤發(fā)出BAT命令,即將寫入BAT命令。 RAM更新檢驗(yàn)正在進(jìn)行或失靈。
09 EPROM檢查總和且必須等于零才通過(guò)。 核實(shí)鍵盤的基本保證測(cè)試,接著核實(shí)鍵盤命令字節(jié)。 第一個(gè)64K RAM測(cè)試正在進(jìn)行。