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什么是功能測試在生活中的應(yīng)用

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什么是功能測試在生活中的應(yīng)用

  功能測試就是對產(chǎn)品的各功能進(jìn)行驗(yàn)證,根據(jù)功能測試用例,逐項(xiàng)測試,檢查產(chǎn)品是否達(dá)到用戶要求的功能。那么你對功能測試了解多少呢?以下是由學(xué)習(xí)啦小編整理關(guān)于什么是功能測試的內(nèi)容,希望大家喜歡!

  什么是功能測試

  Functional testing(功能測試),也稱為behavioral testing(行為測試),根據(jù)產(chǎn)品特性、操作描述和用戶方案,測試一個(gè)產(chǎn)品的特性和可操作行為以確定它們滿足設(shè)計(jì)需求。本地化軟件的功能測試,用于驗(yàn)證應(yīng)用程序或網(wǎng)站對目標(biāo)用戶能正確工作。使用適當(dāng)?shù)钠脚_(tái)、瀏覽器和測試腳本,以保證目標(biāo)用戶的體驗(yàn)將足夠好,就像應(yīng)用程序是專門為該市場開發(fā)的一樣。功能測試是為了確保程序以期望的方式運(yùn)行而按功能要求對軟件進(jìn)行的測試,通過對一個(gè)系統(tǒng)的所有的特性和功能都進(jìn)行測試確保符合需求和規(guī)范。

  功能測試也叫黑盒測試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測試,只需考慮需要測試的各個(gè)功能,不需要考慮整個(gè)軟件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及代碼.一般從軟件產(chǎn)品的界面、架構(gòu)出發(fā),按照需求編寫出來的測試用例,輸入數(shù)據(jù)在預(yù)期結(jié)果和實(shí)際結(jié)果之間進(jìn)行評測,進(jìn)而提出更加使產(chǎn)品達(dá)到用戶使用的要求。

  功能測試的應(yīng)用

  印刷電路板,又稱印制電路板,印刷線路板,常使用英文縮寫PCB(Printed circuit board),是重要的電子部件,是電子元件的支撐體,是電子元器件線路連接的提供者。由于它是采用電子印刷技術(shù)制作的,故被稱為“印刷”電路板。

  在印制電路板出現(xiàn)之前,電子元件之間的互連都是依靠電線直接連接而組成完整的線路。電路面包板只是作為有效的實(shí)驗(yàn)工具而存在,而印刷電路板在電子工業(yè)中已經(jīng)成了占據(jù)了絕對統(tǒng)治的地位。

  20世紀(jì)初,人們?yōu)榱撕喕娮訖C(jī)器的制作,減少電子零件間的配線,降低制作成本等優(yōu)點(diǎn),于是開始鉆研以印刷的方式取代配線的方法。三十年間,不斷有工程師提出在絕緣的基板上加以金屬導(dǎo)體作配線。而最成功的是1925年,美國的Charles Ducas 在絕緣的基板上印刷出線路圖案,再以電鍍的方式,成功建立導(dǎo)體作配線。

  直至1936年,奧地利人保羅·愛斯勒(Paul Eisler)在英國發(fā)表了箔膜技術(shù),他在一個(gè)收音機(jī)裝置內(nèi)采用了印刷電路板;而在日本,宮本喜之助以噴附配線法“メタリコン法吹著配線方法(特許119384號)”成功申請專利。而兩者中Paul Eisler 的方法與現(xiàn)今的印刷電路板最為相似,這類做法稱為減去法,是把不需要的金屬除去;而Charles Ducas、宮本喜之助的做法是只加上所需的配線,稱為加成法。雖然如此,但因?yàn)楫?dāng)時(shí)的電子零件發(fā)熱量大,兩者的基板也難以配合使用,以致未有正式的實(shí)用作,不過也使印刷電路技術(shù)更進(jìn)一步。

  黑盒測試的概述

  黑盒測試(Black-box Testing,又稱為功能測試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測試)是把測試對象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測試時(shí),需要測試軟件產(chǎn)品的功能,不需測試軟件產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過程。

  比如黑盒技術(shù)設(shè)計(jì)測試用例的方法有:等價(jià)類劃分、邊界值分析、錯(cuò)誤推測、因果圖和綜合策略。

  黑盒測試注重于測試軟件的功能性需求,也即黑盒測試使軟件工程師派生出執(zhí)行程序所有功能需求的輸入條件。黑盒測試并不是白盒測試的替代品,而是用于輔助白盒測試發(fā)現(xiàn)其他類型的錯(cuò)誤。

  黑盒測試試圖發(fā)現(xiàn)以下類型的錯(cuò)誤:

  (1)功能錯(cuò)誤或遺漏

  (2)界面錯(cuò)誤

  (3)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)或外部數(shù)據(jù)庫訪問錯(cuò)誤

  (4)性能錯(cuò)誤

  (5)初始化和終止錯(cuò)誤
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